|
|
|
Cena promocyjna: 27.16 zł Oszczędzasz: 0.84 zł /-3%/ |
| autor: | Władysław Ciążyński |
| wydawnictwo: | Wydawnictwo Pracowni Komputerowej Jacka Skalmierskiego |
| isbn: | 83-86644-57-5 |
| stron: | 140 |
Opracowanie może być wykorzystane jako "podręcznik pierwszego kontaktu" przez studentów wszystkich uczelni i kierunków, posiadających w programie studiów takie przedmioty jak "elektronika" lub "układy półprzewodnikowe".
Przystępny sposób przedstawienia tych układów powoduje, że zbiór może być także wykorzystany przez uczniów średnich szkół o profilu elektronicznym, oraz nadaje się do samodzielnych studiów. Od czytelnika wymagana jest tylko znajomość podstawowych praw elektrotechniki, prawa Ohma i praw Kirchhoffa.
W stanowiącym osobną całość 3. tomie zostały umieszczone zadania nt. analizy układów liniowych ze wzmacniaczami operacyjnymi (WO). Obszerne wprowadzenie do tej części zbioruzawiera omówienie podstawowych parametrów WO (w zakresie pozwalającym na zdefiniowanie pojęcia "idealnego WO"), oraz stosowanych metod analizy. Dla części zadań prezentowane są rozwiązania metodą macierzy admitancyjnej. Planowane jest rozszerzenie tego tomu o zadania dotyczące zastosowań w układach nieliniowych, oraz analizy wpływu rzeczywistych parametrów WO.
Przystępny sposób przedstawienia tych układów powoduje, że zbiór może być także wykorzystany przez uczniów średnich szkół o profilu elektronicznym, oraz nadaje się do samodzielnych studiów. Od czytelnika wymagana jest tylko znajomość podstawowych praw elektrotechniki, prawa Ohma i praw Kirchhoffa.
W stanowiącym osobną całość 3. tomie zostały umieszczone zadania nt. analizy układów liniowych ze wzmacniaczami operacyjnymi (WO). Obszerne wprowadzenie do tej części zbioruzawiera omówienie podstawowych parametrów WO (w zakresie pozwalającym na zdefiniowanie pojęcia "idealnego WO"), oraz stosowanych metod analizy. Dla części zadań prezentowane są rozwiązania metodą macierzy admitancyjnej. Planowane jest rozszerzenie tego tomu o zadania dotyczące zastosowań w układach nieliniowych, oraz analizy wpływu rzeczywistych parametrów WO.